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本文研究的是摄影测量和结构光光栅测量方法相结合的反向工程三维光学测量技术中的一部分。这套光学测量系统需要在被测物体表面贴两类参考点，一类是摄影测量系统和光栅测量系统都可以识别的，没有固定编号的参考点，这里称为标志参考点，此类参考点只需识别其特征的中心位置；另一类是只有摄影测量系统可以识别的、表面特征各为不同并且有固定数字编号的参考点，称为编号参考点，这类参考点在图像识别中既需要识别其特征的中心位置，又需要识别其具体的编号代码。其中，标志参考点的作用是作为每次光栅测量得到的点云拼合的参照。而编号参考点的作用则是通过摄影测量原理，根据其自身的空间坐标和两类参考点之间的距离关系，将不同的数字图像上的参考点进行拟合，以获得贴放在物体表面上的标志参考点的空间坐标信息，从而提高了点云拼合的精度。本课题的任务是设计一组合理的标志参考点和编号参考点，然后就参考点的识别技术进行探讨和研究。