本论文以光纤陀螺仪的空间应用为背景，利用地面模拟设备，研究了在电子和质子辐照条件下国产“熊猫”型石英保偏光纤诱导损耗的变化规律，并利用多种分析方法对石英光纤的辐照诱导损耗机理进行了探讨。在一定能量电子和质子辐照作用下，“熊猫”型石英保偏光纤诱导损耗均随辐照注量的增加呈指数规律上升。石英光纤辐照诱导损耗的变化规律与粒子的能量和种类有关，在相同注量下，170keV电子和2.6MeV质子辐照导致的损耗值增加分别高于1MeV电子和2.3MeV质子辐照，2.6MeV质子的影响大于170keV电子。这一结果表明，纤芯吸收的能量越多诱导损耗值变化越大。红外光谱分析表明，纤芯中的Si-OH缺陷是导致工作波长为1310nm石英光纤辐照诱导损耗增加的重要原因。进一步的分析证明，Si-OH是由辐照产生的Si-O与原子H反应形成。H的来源有两个途径，一是表面涂覆层聚合物辐照降解生成，然后通过扩散到达纤芯，二是质子辐照直接注入H。在质子辐照下，纤芯中形成更多的Si-OH，所以光纤的损耗增加比注量相当的电子辐照时更显著。经辐照后的石英光纤存在明显的退火效应，而且温度越高诱导损耗的恢复越明显。这一现象表明，Si-OH不是诱导损耗增加的唯一机制。有专门的试验研究表明，氢气能够导致光纤损耗增加，但目前没有辐照条件下在纤芯中形成氢气的直接证据。从电子和质子辐照的数据分析，质子辐照下纤芯内部H浓度较大，有条件使原子H复合成为分子氢。退火试验显示，经质子辐照的光纤退火程度明显大于电子辐照的情况，这一结果成为辐照损耗氢气吸收机制的一个间接证据。另外，对退火完全后的石英光纤再加热，发现光纤辐照诱导损耗值随温度的升高而增加，这也是光纤损耗增加的一种机制。