具有TiN过渡层的Si基NbN薄膜的制备与性能

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目前,超导氮化铌(NbN)薄膜是制备高性能单光子超导器件(SSPD)和超导热电子测辐射热仪(HEB)的首选超导材料,受到广泛的研究和关注。NbN具有较高的超导临界转变温度(Tc>16K)和临界电流密度。通常,采用磁控溅射的技术在和NbN晶格常数相近的单晶基片(如MgO)上生长出高质量的NbN薄膜。但是,MgO基片在THz频段损耗较大,同时微纳加工较困难。硅基NbN薄膜器件相比MgO基器件其主要优势在于:①工作在THz频段损耗极低;②微纳加工工艺技术成熟;③容易实现超导探测器件与半导体器件的集成;④成
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