随着国内外半导体行业的迅猛发展,芯片生产制造过程中芯片测试的重要性与日俱增,高效、低成本的测试方案和设备成了半导体行业中ATE公司不断追求的目标。同时,软件模拟测试与辅助实机测试的方案在实际应用中也越来越多,许多测试机的数据流一开始就进入电脑软件中进行分析、处理、封装,即软件处理数据的性能成为了影响完整芯片测试流程表现的重要一环。因此,如何处理因芯片集成度、复杂度不断提高导致的测试数据激增而产生的如数据流阻塞严重、测试软件IO占用过高、测试流程耗时过长等问题以提高芯片测试效率、降低测试成本即成了半导体行业重点讨论话题。本文以测试软件为主体,研究了如下几个方面的内容:1.介绍并分析了当前半导体行业与个别公司如Advantest公司采用的测试数据类型与方案,针对Advantest公司采用的使用EDL文件作为生成STDF数据文件过度文件的测试数据生成、写入方案存在的不足提出了利用压缩算法和并行技术提高数据生成、转译、写入的效率的方案;2.结合测试数据本身的特性与实际工程项目的需求分析、测试、比较了不同压缩算法应用于EDL、STDF文件处理流程中的优劣,最终选择了Deflate算法(包含在zlib库中)与LZ4算法来优化测试数据处理流程,并设计出了针对EDL文件转译STDF文件部分直接将数据压缩写入磁盘的方案;3.根据C++编程语言本身的技术方案,结合整个测试数据流程——生成EDL文件、转译为STDF压缩文件、STDF压缩文件的磁盘写入,分析两种算法流程中存在可进行并行化优化的部分,设计了全局流程的改进方案,用多线程的数据生成流、转译流缩短数据生成、存储耗时,在保证文件完整性情况下提高软件数据处理的性能与效率。最后比较两种算法方案的优缺点。本文针对芯片测试软件在处理芯片数据的流程中的特点,利用压缩和并行化方案改进了测试软件处理数据的表现。该改进方案在公司实际工程测试环境中,对多个工程数据进行测试比对都取得了不错效果。统计而言文件压缩率最低15.7%,最高可超过60%;时间消耗上平均减少了了接近30%,即本文优化测试数据处理的方案确实起到了改善软件数据处理性能的效果。