SG抛光膜加工半导体基片损伤机理的研究

来源 :华侨大学 | 被引量 : 0次 | 上传用户:thomas012
下载到本地 , 更方便阅读
声明 : 本文档内容版权归属内容提供方 , 如果您对本文有版权争议 , 可与客服联系进行内容授权或下架
论文部分内容阅读
随着现代科学技术的发展,以单晶硅、碳化硅、蓝宝石等为代表的半导体材料在IC产业和光伏产业的应用得到迅速升温,这不仅极大的提高其需求量,也对其加工质量提出越来越高的要求。但是作为典型的硬脆性材料,几乎相同的弹性极限与强度极限这一特性使得半导体材料的加工性很差。半导体元件的加工精度和加工质量决定了其使用性能的优劣,尤其是加工损伤的产生,往往是制约技术突破的瓶颈所在。现行半导体材料的精密加工方式可以很好地减小甚至消除加工损伤的产生,满足元件高质量的加工要求,但大都存在一定的局限性,如加工效率过低、操作技术要求过高、加工材料有限、设备昂贵、污染环境等问题。  本课题组利用溶胶凝胶技术制得一种新型半固结柔性抛光工具——SG抛光膜,其制作工艺简单、成本低廉、绿色环保,在前期的使用过程中发现它可用于半导体基片的抛光,获得纳米级粗糙度的超光滑表面。但是其加工后的工件表面损伤状况却有所不同:单晶碳化硅基片基本没有划痕等表面损伤,单晶硅基片表面有变色损伤层的出现。论文从表面损伤入手探究导致不同损伤现象的原因所在,明确工具的属性并给出损伤控制条件。  本论文针对加工损伤,首先设计对比实验,明确了不同工具加工碳化硅基片表面损伤的形式,通过对不同磨料粒度抛光工具的加工结果分析确定 SG抛光膜的加工质量不会随着磨料粒径的改变而显著变化,从而避免了精抛所用超细磨料的团聚所导致的表面损伤,最终提出“容没效应”合理解释 SG抛光膜的工具特性;然后利用Raman、XRD、FIB-SEM等多种手段确定了W40金刚石SG抛光膜加工单晶硅基片所产生的表面变色损伤为厚度在50-200nm的非晶硅和纳米晶体硅层,通过对抛光液中被去除硅材料的透射检测确定200-400nm的材料去除尺度导致了表面相变损伤的出现,可以通过减小磨料粒度和更换磨料种类来避免表面相变损伤的产生。
其他文献
虚拟仪器技术是计算机技术和微电子技术相结合的一项基于 PC的新型技术。“软件就是仪器”是其基本思想。随着网络技术尤其是Internet的进步,虚拟仪器开始向着网络化方向发展
本文通过收集和研究国内外资料,介绍了发动机ECU解码器的特点,并结合现有产品价格昂贵、功能不全和操作复杂等缺点确立了下列研究目标: 1.具有常规解码器的各种功能,并大幅降
在材料大家族中,硬脆性材料占了相当大的比重,在无机非金属材料中,硬脆性材料更是占据了绝大部分。玛瑙石作为一种典型的硬脆性材料,由于其具备较高的硬度、耐磨、耐高温以及较好
1rn宝多这孩子六岁之后越来越喜欢说“不”,越来越爱跟大人反着来.俗语说,“你指东他往西,叫他打狗他撵鸡”,指的就是他这样的小孩!rn他的叛逆在一些小事上可见端倪.比如,天
期刊
随着城市化发展的加快,电梯的数量与使用频率飞速地增加,同时电梯应用领域与地域分布范围不断地扩大,使得电梯已成为人们工作与生活中不可缺少的交通工具。然而,一旦电梯发生故障
本课题是鄂卓茂教授主持的农业部“行走式节水灌溉机具科研开发设施设备建设”项目的一个重要组成部分。目的就是在行走式节水灌溉土槽台车上开发研究测量与控制系统,主要内容