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空间大口径光学元件,要求地面检测精度和空间使用环境下的光学精度具有一致性。在加工过程中,大口径光学元件受重力场、温度场、装夹应力等因素耦合作用,容易发生面形非定常变化,这种变化和加工误差具有强耦合性,且很难和镜面实际误差进行有效分离。不同的测量方法和测量过程中,镜面姿态及位置的差异,都会影响测量结果的不确定度。进行镜面误差测量多因素解耦分析,获得镜面真实误差,解决多种因素耦合作用下镜面状态的天地一致性,提高测量的可信度,是确保空间大口径反射镜研制质量的重要基础。本文以1米口径的Sic(碳化硅)非球面