对于高功率激光器阵列参数的测量,一般采用光功率计、驱动电流源、光谱分析仪等设备组合而成一个激光器测试仪器,它不仅体积大、不能连续测量、费工费时、自动化程度低,而且因为由于半导体激光器阵列发光区域很宽、发散角较大,一般的光功率计和光谱分析仪的接收口有限,无法对其进行精确测量。 本文介绍的高功率半导体激光器阵列参数测试系统,采用高精度的数据采集技术、强大的数据处理技术及精密机械定位技术,可对半导体激光器阵列的P—I曲线(Power-Current曲线即光功率—电流曲线)、V—I曲线(Voltage-Current曲线即电压—电流曲线)、光谱特性曲线及相关参数自动进行测试。 系统的显著特点为: 1、可实现连续测试,测试速度达3支/分; 2、高可靠性脉冲驱动电源,使受试器件在测试过程中不会意外受损; 3、采用半导体致冷器为执行元件的恒温测试台,保证了测试结果的准确性; 4、系统软件部分设计采用Windows风格,用户界面友好,易于显示、存储、管理和打印测试结果。 系统开发过程中,我们测量了几十只半导体激光器,结果表明:该系统测量速度快、测试精度高、重复性好。为开发和研制高性能的半导体激光器阵列提供了有力的保障。