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阻变存储器作为下一代非易失性存储器的有力竞争者之一,在最近十多年来吸引了广泛的关注。作为阻变存储器的核心,阻变材料的阻变性能和阻变机制一直是相关研究方向中的热点问题。本文采用脉冲激光沉积(Pulsed Laser Deposition,PLD)技术在Pt/Ti/SiO2/Si基片上制备了TiO_2为功能层的薄膜型阻变存储器单元。本论文通过控制TiO_2薄膜的沉积和退火工艺条件改变TiO_2薄膜中的氧空位缺陷,测试TiO_2阻变效应和制备工艺的关系,系统分析TiO_2薄膜的导电机制,结合XPS分析等手