随着电子技术的迅猛发展,电路系统的复杂度急剧增加,目前约有60%的芯片同时包含了数字和模拟两种信号,电路测试也因此面临着更大的挑战。离散事件系统理论(DES-Discrete Event System)把数模混合电路中数字/模拟信号统一在同一个数学模型下,有效的覆盖目前大部分类型的电路测试问题,在一定程度上解决了数模混合电路故障诊断困难的问题。本文在DES理论的框架下对数模混合电路故障诊断中的若干关键问题进行了研究。本文的主要工作如下:◆ 深入研究了基于DES理论的电路故障诊断模型,探讨了DES理论的优越性和不足之处。◆ 针对求取电路的最小测试集一直是基于DES理论的电路可测试性研究领域的重点和难点的现状,提出了一种新的求取电路最小测试集的算法,该算法将最小测试集的求取看作是在求最精细分区逆运算过程中去除冗余事件的运算。该算法利用线性方程组的基本知识,将求最精细分区看作方程组求解,将求最小测试集看作去除冗余方程的过程,从而从代数的角度解决了该问题。同时对几种求取最小测试集的算法进行了比较研究。◆ 运用DES理论对具体的电路实例进行了完整的故障诊断分析,并探讨了电路的测试代价问题,其中故障仿真部分采用了EDA工具Multisim2001软件,实验证明该软件仿真效果良好。◆ 介绍了NI测试平台,并通过电路实例验证了该平台的可行性和优越性,为实现数模混合电路的故障诊断系统的智能化提供了一种新的思路。