在统计过程控制(SPC)中,经常会考察某个变量的质量特性,最初在检测这个质量特性的均值和方差时,通常采用的方法有X-S(或者X-R)控制图,CUSUMX&CUSUMs控制图,EWMAX&EWMAs控制图等。后来,又有人提出用一张控制图同时检测过程均值和方差的变化,例如:Wu&Tian(2002)的WL控制图(基于加权损失函数基础的控制图),Wu&Tian(2005)的WLC控制图(基于加权损失函数的CUSUM控制图),梁文娟(2006)的WLE控制图(基于加权损失函数基础的EWMA控制图)。我们把这种控制图统称为静态控制图(抽样区间,样本容量等固定),它的优点是设计和操作相对简单一些。但是,这种控制图也存在缺点,它在检测过程漂移的效率上劣于自适应控制图。生产过程中,由于某种管理或操作的原因,在样本容量很容易改变而抽样区间不易改变的情况下,VSS控制图更受青睐。而有关VSS控制图的也已有人做了研究。如:张维铭(2000)VSS X-R控制图,Sheng Zhang&Zhang Wu(2006)的VSS WLC控制图(用于检测过程漂移的样本容量可以变化的CUSUM)等。本文结合WLE控制图和VSS WLC控制图的思想,提出了基于加权损失函数下的可变样本容量的EWMA控制图,我们称之为VSS WLE控制图。它也是一种在样本容量可以变化的条件下能够同时检测过程均值和方差漂移的控制图,在计算VSS WLE控制图的平均运行时间时,我们引入并简单介绍了积分配置法,并用近似法近似计算积分,使得积分配置法在计算上更加可行,把这种方法用到计算平均运行时间上大大节省了计算时间。同时我们对这种控制图的优良性做了研究,通过与WLE控制图、WLC控制图以及VSS WLC控制图的比较可以看出,VSS WLE控制图整体上优于WLE控制图和WLC控制图,并且我们的新控制图更接近实际,也更合理;VSS WLE控制图同样优于VSS WLC控制图,而且,我们的新控制图还可以通过分解统计量来区分漂移类型,这也是VSS WLE控制图相对于VSS WLC控制图的一大优势。