红外成像制导技术在精确制导领域中占有非常重要的地位。红外成像制导技术是在红外点源制导技术基础上发展起来的,是目前红外制导技术发展的主流。红外成像导引头多采用红外焦平面阵列探测器,这种探测器具有很高的灵敏度和帧频,因而在更好地捕获目标物体辐射信号的同时也更易受杂散光(尤其是太阳光)的影响,严重时杂散光信号甚至会将目标信号“淹没”,使导引头失去目标,因此评估导引头抗杂散光干扰性能是十分必要的。为评估红外成像导引头的抗杂散光干扰性能,开发了一套杂散光测试设备,可以对红外成像导引头受杂散光干扰情况进行定量分析,同时也可对其他红外成像光学系统进行杂散光测试。另一方面,由于导引头输出的图像信号一般采用LVDS或HOTLink格式传输,不能被杂散光测试设备直接接收,设计了一款导引头信号调理卡,能够将多种不同型号导引头输出的图像信号转换成测试设备可识别的信号格式。课题来自于天津大学与中国空空导弹研究院合作项目。本论文主要内容有:1.根据技术要求,提出了杂散光测试设备总体设计方案,并分模块进行了设计;提出了信号调理卡的设计方案;2.基于单片机设计了温度监测系统,主要包括氙灯温度监测、太阳模拟器箱体温度监测和控制机柜箱体监测,传感器使用热电偶和DS18B20数字温度传感器;3.基于VC++6.0编写了系统测控软件,主要包括运动控制、图像采集和图像处理三个功能模块;4.对导引头信号调理卡的硬件设计方案进行了详细阐述,包括LVDS接收电路、HOTLink通讯电路、数据缓存电路、电源模块的设计和电磁兼容等;5.对导引头信号调理卡的程序设计方案进行了详细阐述,包括功能分析、总体设计和分模块设计等;6.介绍了设备的实验测试情况。设备研制完毕后先后进行了实验室测试和现场测试,主要技术指标达到了设计要求;7.总结了全文的工作。对设备存在的一些缺点和不足进行了探讨;展望了今后杂散光测试领域的发展前景。