由于金量子点具有独特的光学、电学、磁学等性质，并具有广泛的应用前景，因而一直是纳米领域的研究热点。其中基于金量子点的纳米电子器件一直备受关注，然而金量子点的精确定位一直是其中的一个难题。论文围绕此问题开展了金量子点的可控制备、光学性能分析及其自组装研究，主要包括以下研究内容：（1）金量子点的可控制备。采用四种化学方法来制备不同粒径的金量子点，如硼氢化钠还原氯金酸法、TBAB还原AuPPh3Cl法、种子生长法、柠檬酸三钠还原氯金酸法，制备了尺寸在2-40nm内的金量子点，特别是合成的2-10nm的金量子点十分均匀，实现了粒径的调控，并分析了不同制备方法的优缺点。（2）金量子点的表征研究。采用透射电子显微镜(TEM)、扫描电子显微镜（SEM）、X射线衍射仪（XRD）对金量子点进行了形貌和结构表征研究，分析了实验参数如温度、还原剂浓度、包裹剂种类对金量子点制备结果的影响。（3）金量子点的光学性能研究。采用Mie理论分析和仿真了金量子点的光学性能，实验上采用了紫外可见分光光度计（UV-Vis）进行测试，并进行了理论与实验的比较。研究表明，金量子点具有明显的量子尺寸效应和小尺寸效应，随着量子点尺寸的减小，光谱吸收峰位置发生蓝移，同时吸收峰的强度增加。（4）金量子点的自组装研究。首先研究了金量子点在普通基底和微栅结构表面上的自组装过程，理论分析和实验表明，通过表面形貌诱导可以实现金量子点的定位过程。并进行了有序介孔薄膜的制备，开展了有序介孔薄膜自组装金量子点方面工作的探索，为下一步器件的制作奠定了基础。