偏振相关测试仪是测试光系统和光器件偏振特性的仪器，它已经被光器件和光系统厂商广泛地使用。作者在充分考虑偏振相关测试仪应用前景的基础上，结合光器件制作技术的现状，成功的设计并制作了基于光纤环的偏振相关测试仪。全文重点分析并讨论了以下问题。 　　(1)在对国内外制作偏振相关测试仪或偏振控制仪的厂商进行初步了解之后，结合相关技术文献和商用产品，全面介绍了目前国内外制作偏振控制仪的技术方案，对各种方案的原理、特点、性能作了详尽的总结，并指出各种方案的发展趋势。 　　(2)从弹光效应入手，分析光纤应力双折射的技术原理，以及用光纤制作光纤波片的设计方案，然后分析通过波片的相位延迟作用来控制光的偏振态，最后利用波片的传输矩阵分析，得出光纤波片组实现偏振控制的方法和条件。 　　(3)对基于光纤环的偏振相关测试仪的方案设计作了较为详尽的分析，包括光纤环设计，传动设计，控制设计，测试方案设计等多个组成环节。同时结合其它方案进行了必要的比较和分析。 　　(4)对光电转换部分的要点作了必要分析，介绍了电路的工作原理和控制单片机的程序框图。 　　(5)对研制的产品进行了各种性能的测试，根据测试的结果，作了仔细的分析和讨论，指出研制的偏振相关测试仪具有较好的光学指标，与设计分析相当吻合。 　　总之，论文对基于光纤环的偏振相关测试仪的各个方面展开了理论及方案的分析和讨论，并在实际应用中作了对比，得出了结论，这对今后近一步提高产品的研制水平具有较高的参考价值。