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通过射频磁控溅射的方法,成功地制备了纳米TiO_2薄膜并且研究了TiO_2薄膜的相关特性。考察了TiO_2靶与基片距离、工作压强、靶的蚀刻对薄膜沉积速率、均匀性、折射率的影响;采用X射线衍射仪(XRD)对薄膜的晶体结构进行了检测,并且讨论了靶材料、基片类型、及退火温度对薄膜晶体结构的影响;采用紫外—可见分光光度计(UV—ViS)分析了薄膜的禁带宽度及退火温度对薄膜禁带宽度的影响,采用激光共聚焦拉曼光谱研究了薄膜的晶体结构及生成模式;采用原子力显微镜(AFM)研究了薄膜的表面形貌。采用照相法研究了二氧