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工业计算机层析成象或称工业断层扫描成象,简称ICT(Industrial Computed Tomography),其基本原理与医用CT相似,均是基于射线检测的原理。由于工业X-CT系统中使用的X射线是多色谱,能量不同的X射线与物质作用的机理不同,将产生射线(束)硬化(Beam Hardening),从而引起CT图象的“压杯(Cupping)”伪象(Artifact)。在这种情况下,如果了解X射线(即X光)与不同物质作用前、后的能谱情况,就能够对CT图象进行适当的硬化校正。X射线的能谱可由X光谱仪测