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非接触红外测温是目前重要的温度测量方式之一。它具有响应速度快、测量范围宽、灵敏度高等优点，因而被广泛应用于各个领域。用非接触方式测量动态物体的温度目前多采用红外辐射法。但用红外辐射法测量常温下动态物体的温度是比较困难的。针对目前非接触红外测温的现状，本文提出了一种新型非接触常温测量方法。它是一种利用致冷参考温度比较法对室温下的物体进行非接触方式检测的方法。基本工作原理是用半导体致冷技术产生一个较低的参考温度与被测常温物体温度进行比较，然后得到被测物体的相对温度。相对温度与致冷块的参考