随着全世界对安全的越来越重视,如何准确、快速的检查出公共场所的违禁品,成为大家关心的话题。X射线技术是一种广泛应用于违禁品检测的专门技术,近几年得到快速发展。主要有单能X射线技术、双能X射线技术、多视角X射线技术、X射线散射技术和计算机断层成像技术(CT技术)等。其中双能X射线成像技术,利用物质对高能和低能X射线吸收程度不同,可以测得物质的有效原子序数,从而实现物质识别。由于双能X射线的能谱特性和差异,可以较精确的进行物质识别。大多数公共场所的X射线安检设备是针对于行李、包裹等小型物品的,X射线能量一般在450KeV一下;对于大型的车辆、集装箱等的检测则需要高能X射线,X射线能量大于1MeV。本文用蒙特卡罗方法对高能X射线双能成像物质识别技术进行了模拟。模拟采用MCNP4C蒙特卡罗程序,首先对高能电子打靶的轫致辐射进行了蒙特卡罗模拟,得到了6MeV和9MeV电子的轫致辐射X射线谱及角分布,模拟结果和理论及实验都非常吻合;利用所得的高、低能轫致辐射X射线谱,进行X射线物质扫描的蒙特卡罗模拟,得到了Pb(铅)、Fe(铁)、Al(铝)、KCl(氯化钾)、RDX(黑索今)、CH2(聚乙烯)等六种物质的识别曲线,总结了各种材料的识别曲线与各自有效原子序数之间的关系。并对以上六种物质的康普顿散射(前向散射)进行了模拟研究,得到了前向散射光子数与密度的关系,增加了物质识别的准确性。