论文部分内容阅读
随着近代电子技术的飞速发展,SD卡(Secure Digital Memory Card)的应用越来越多,SD卡的质量好坏直接影响到生产和生活上的可靠性和安全性,所以SD卡的测试的重要性不言而喻。传统的SD卡测试方法主要是通过读卡器加上与之配对的测试软件对SD卡进行测试,但是由于机能所限只能进行基本的读写测试,无法完成SD卡早衰相关的可靠性测试和高性能测试。传统的测试方法在应对大容量的SD卡时,更会暴露出,测试时间长,测试机自身稳定性等问题,使之无法应用于工业生产。论文提出了一种自动化的测试系统,测试系统以PCI Express作为传输接口,可以提供10GB/s的速度,满足高速SD卡的测试要求。测试系统的主板通过MCU(Microcontroller Unit)可以控制加载到SD卡上每个针脚的,从而实现了对SD卡电气性能的测试,解决了传统测试系统只能进行的读写的短板。测试系统软件部分以自动化为着力点,加入了测试机异常自动恢复的功能,控制分拣机进行自动上下料的功能和基于SD卡控制器的自动测试功能,减少了人工介入,提高了测试效率。论文文主要完成了以下工作:1、分析了SD卡的结构,SD卡的故障分析,SD卡的测试原理和测试流程,提出了SD卡的设计目标和测试系统的设计原则。2、分析了March-FT算法,PCIe设计结构,基于SD卡控制器的测试设计,自动异常恢复的方式,提出了测试系统的硬件架构,测试单元的架构和软件架构。3、基于设计原则和总体的设计架构,提出了测试系统的硬件设计和软件设计。4、论文最后对测试系统的进行了测试和验证,用实际数据,证明了测试系统的可以满足客户的需求,达到了预期的效果。SD卡测试平台已经投入到工厂使用,从工厂反馈的信息来看,测试平台解决了测试系统不稳定、测试时间比正常测试时间长、部分产品良率不合格等问题,提高了测试稳定性,达到了低成本测试SD卡的目的。