随着近年来半导体工艺的不断发展，国内外对CMOS图像传感器的研究也越来越快，各种高性能的CMOS图像传感器产品一一问世，有逐渐取代CCD图像传感器之势。尤其是具有高分辨率、高灵敏度以及高帧频等优良性能的CMOS图像传感器在科学研究、医疗领域、航空航天乃至军事领域上都具有十分广泛的应用。对于各髙端领域的用户来说，CMOS图像传感器在实际应用中所表现出来的性能参数，往往比厂家提供的器件数据手册中的参数指标更具有参考价值。为了筛选出具有更高性能的CMOS成像器件，要量化和评估CMOS图像传感器在实际应用中的工作表现。为了实现这一目的，国内外都在紧锣密鼓的进行相应的CMOS图像传感器性能参数测试研究。然而国内对于CMOS图像传感器的研究起步较晚，对于CMOS图像传感器性能参数测试的研究则更是慢于国外研究机构。　　本文正是从这一角度切入，首先对国内外CMOS图像传感器性能参数测试研究的发展和现状进行了调研，之后在调研的基础上开展实验工作，并取得了如下成果：　　1.以EMVA1288标准和PhotonTransfer光子转换作为理论基础，研究分析了CMOS成像器件的主要性能参数定义，提炼出了针对量子效率和满阱容量的测量方法；　　2.根据硕士期间参与CMOS图像传感器测试系统项目的实践经验，详细分析了性能参数测试系统的软、硬件实现，并结合实验室环境，针对现有测试装置的一系列问题做出了诸多改进，改进后的测试系统能够完成量子效率和满阱容量等参数的测试研究。　　3.将测量方法应用在测试系统中，对待测CMOS图像传感器进行了多次实验，用最小二乘法对实验数据进行处理并利用MATLAB软件实现相应计算。　　4.分析了测试系统中部分模块的噪声，并提出了降噪方案，从各模块间速度匹配以及FPGA资源占用情况方面分析了测试系统的硬件电路。