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本文介绍了高介电系数铁电薄膜材料在DRAM中的应用前景和现在存在的主要问题及解决办法。利用脉冲激光法制备了两类铁电薄膜,一类是28%mol 镧掺杂钛酸铅(PLT)薄膜,主要研究了沉积气压对薄膜结构和介电性能的影响,发现PLT 薄膜的介电性能非常依赖于脉冲激光沉积时的氧气压,本论文找到了具有高介电系数和低介电损耗的PLT 薄膜制备条件。另一类是BaTiO_3(BT)和SrTiO_3(ST)交替组成的多层膜。通过调节沉积每层膜停留时的氧气压,实现了相对于Ba_(0.5)Sr_(0.5)TiO_3均匀薄膜