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鉴于稀土元素在地质学方面的重要意义,对其准确值的测定一直以来都是分析地球化学工作者的追求目标。随着仪器分析科学的进步,分析工作者尝试使用各种仪器分析手段来进行稀土元素准确值的测定研究。由于稀土元素相似的化学性质,普通的化学分析手段很难满足测试需求。X射线荧光测试、中子活化法、等离子体发射光谱法以及等离子体质谱法等仪器测试手段是目前最为常用的稀土分析技术。ICP-MS是基于简单的同位素质荷比的理论进行元素同位素的定量分析。相对比较其他测试方法,ICP-MS具有高灵敏度和准确度并能进行多元素同时测试的优势,是目前在稀土测试中最为常用的测试技术。然而,低含量稀十元素测试相对于四级杆ICP-MS的灵敏度而言依旧存在巨大的挑战。另一方面,在测试中还存在来自于稀土和Ba的氧化物(REE-O+,Ba-O+))多原子光谱干扰。在提高分析物质的灵敏度方面,有众多的文献表明可通过在等离子中加入除工作气体氩气以外的其他气体来实现,其中最常用的气体是氮气。本文探讨在等离子中混入少量氮气提高测试灵敏度的研究,比较在膜去溶和冷却雾室两种进样系统中加入氮气的效应。发现在两种进样系统混入N2气都能使等离子变的强壮,但只有在膜去溶进样系统中加入少量氮气可以显著提升仪器灵敏度。通过观察等离子中离子形态,我们也发现只有膜去溶进样系统在加入氮气情况下离子密度会增加。这可能是由于冷却雾室进样情况下会有溶剂水的加入,而水的分解会带走部分能量。而对于氮气增敏的机理,我们认为可能是由于混入氮气比纯氩等离子体有更高的热传导率。在祛除多原子干扰方面,最直接的方式就是在进入等离子体之前祛除溶剂水。本研究使用膜去溶进样系统能很好降低轻稀土和钡的氧化物干扰,其中Ce和Ba的氧化物产率分别<0.03%和<0.01%,远低于冷却雾室的氧化物产率。使用膜去溶进样系统加入少量氮气的方法对多个不同种类地质样品标准物质进行稀土元素测定。其检出限在0.1-10pg g-1满足测试需求,测试结果和样品推荐值有很好的吻合,确证了膜去溶进样系统加入少量氮气的方法能准确测定地质样品中低含量稀土。以上所建立的膜去溶进样系统加入少量氮气的方法能准确测定地质样品中低含量稀土,克服了传统预富集分离方法步骤繁琐,难于操作的困难,具有快速、有效的特点。