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随着超大规模集成电路（very-large-scale integration，VLSI）制造工艺的飞速发展，原有的垂直型芯片设计模式已向水平型设计模式即设计复用转变，通过复用芯核（core），快速构建复杂的电路系统，也就是系统芯片（SoC，System-on-a-Chip）。SoC设计缩短了电路设计周期，降低了设计风险，但同时SoC的高集成度迅速提升了测试复杂性，使测试面临巨大的挑战。如何压缩迅猛增加的测试数据量就是挑战之一。对它的研究受到学术研究机构、电子设计自动化工具厂商和集成电路制造企业的密切关注。本文围绕SoC测试数据压缩方法展开研究。测试数据压缩是指对测试激励和测试响应的测试数据进行压缩。本文研究的是对测试激励数据的压缩，介绍了三类测试激励压缩方法：编码压缩、应用线性解压结构压缩、基于广播扫描的压缩，并介绍了它们在工业中的应用。鉴于线性反馈移位寄存器（linear feedback shift registers，LFSR）是工业界广泛使用的一种线性解压结构，本文着重研究基于LFSR重新播种方法的测试数据压缩问题。本文分析了各类LFSR重新播种方法，发现存在硬件开销大或计算复杂等若干问题，针对这些问题，提出了一种基于部分测试向量切分的LFSR重新播种方法。由于LFSR重新播种方法中编码生成的种子的长度受测试集中测试向量确定位最大数目Smax的制约。通常地，测试向量含确定位越多，越难以编码。我们先对测试集进行预处理，按测试向量含确定位数目的大小进行排序，然后切分一些含确定位较多的且难以编码的测试向量，从而降低了Smax的值，提高了编码成功率，降低了计算LFSR种子的复杂度及种子的位数，最终获得了较好的测试数据压缩效果。对部分标准电路硬故障集的实验结果显示：本方法的测试数据压缩率略优于国际上同类方法；其硬件解压结构只需在一个LFSR的基础上添加简单的时序控制逻辑，硬件开销明显优于同类方法。