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随着微波技术的迅猛发展,微波电介质材料的研制与开发得到了极大的带动,相应的对电介质材料特征参数进行微波频段测试是我们所十分关心的问题。基于此原因,论文的内容是对TE01p模式高品质因数一腔多模测试腔模式净化进行研究。这也是在国家标准GB/T5597-1999“固体电介质微波复介电常数测试方法--高Q腔法”的基础上进行的重新修订工作所必需的修改内容。研究的目的就是希望简并模式以及主模TE01p模邻近干扰模式的谐振峰值离主模的谐振峰值越远越好,并且希望简并模的品质因数值很小,目的是为了提高样品