随着数字信息化的高速发展,嵌入式系统已经进入到我们日常生活中的各个方面。嵌入式系统由硬件和软件组成。与普通软件相比,嵌入式软件的测试难度更大,并且越来越受到关注。可测试性是软件重要的质量特征,对软件度量分析可以预测软件的可测试性,并且能更好地管理测试工作,帮助项目经理合理地安排项目进度,同时可以协助开发人员更好地计划和监测测试进展,协调测试人员对代码重点部分投入更多的测试资源,从而确保嵌入式软件的质量。从上世纪90年代开始,软件的可测试性分析已成为计算机学科的研究方向,也将会成为本世纪的研究热点。在本文中,首先总结现存的软件可测试性方法,介绍嵌入式系统和嵌入式软件的基础理论知识和软件可测试性的定义,分析软件测试、软件验证及软件可测试性三者的关系,为静动态模型奠定理论基础。接着基于DRR模型介绍嵌入式软件静态可测试性度量方法,并依据软件规格说明书或程序代码实现软件的可测试性度量,并设计了依据代码特征进行静态可测试性度量的系统。然后在错误/失效模型和PIE模型的基础上,使用相关矩阵提出嵌入式软件的双故障模型ESDFM (Embedded Software Double Fault Model)文中最后依据W模型,将嵌入式软件的静动态可测试性度量结合,应用于相应的测试阶段,然后提出一种新的嵌入式软件可测试性度量框架,设定一个阀值,当静态可测试性值小于该值时再使用动态模型度量,使测试更加有效。