随着集成电路工艺的发展,芯片的复杂度惊人提高,晶体管的缺陷对集成电路的影响也越来越大,然而这些故障不一定能被电压测试和静态电流测试检测出来,因此,这需要更新的测试策略对传统的测试方法进行补充。本文对作为新的研究热点的测试方法——基于动态电流测试信息的VLSI测试方法进行了研究。本文首先讨论了课题研究的背景与该方法在国内外的研究现状。然后,根据动态电流的产生机理,采用多页有向图对IDDT产生过程进行了建模,并根据这种模型提出了测试矢量与IDDT路径生成算法(VPG算法),通过该算法可在任意数字电路中查找任意测试矢量对所对应的所有IDDT路径。利用该算法可以实现晶体管级或通路段级(MOS管串联通路段)的故障定位。同时,由于越来越多的芯片通过标准库进行设计,提出了单元化结构测试的思想,并根据此思想提出了基于标准功能单元的IDDT激励与路径生成算法(UVPG算法)。通过该算法可以在任意通过标准单元构成的电路中进行测试矢量与对应的动态电流路径的生成。可以使用该算法在测试前生成针对一定目标生成最小测试集,减少测试时间。本文通过程序对算法进行了实现,验证了算法的正确性和有效性。针对数字电路中不易用电压测试和静态电流测试方法完成诊断的复杂故障,如:桥接故障和阻性开路故障,研究了相关分析法。并首次提出了将相关分析法用于提取动态电流中的故障特征。采用相关分析法,使正常电路动态电流和故障电路动态电流分别通过子带滤波器组,然后分析其对应子带序列的相关系数,与相干函数的自相关序列定积分值,并将这两项参数作为故障特征以完成故障诊断。实验电路的仿真结果与数据分析表明,该方法能有效诊断不能被电压测试与静态电流测试诊断的故障。最后对全文的工作进行了总结并提出了下一步可以进行的工作。