微弧氧化技术（MAO），一种在传统阳极氧化基础发展而来的表面处理技术，凭借其在阀金属表面（如：Mg、Al、Ti等）原位生成环境友好的、硬度较高的、耐腐蚀性优良的表面涂层而被广泛应用于工业生产中。但是，在苛刻的服役环境下仍凸显出其耐蚀性较差的缺点。为研究其腐蚀机理，本课题选用正交实验设计方案，以纯镁、AM60B和 AZ91D镁合金为基体材料，对比研究了镁、镁合金微弧氧化膜的微观结构，分析了腐蚀过程中膜层微观结构的变化。同时，构建了相应的等效电路图模型，理清了膜层在3.5 wt.%的中性NaCl溶液中的腐蚀机理。其次，考察了合金化、加载电压对膜层微观结构及耐蚀性的影响，为进一步推广微弧氧化膜的应用提供了理论依据。而且，检验了各种检测手段所得到的耐蚀性结果是否可以相互印证。采用 TT260 测厚仪、SEM 电子显微镜、XRD 衍射仪分别对微弧氧化膜层厚度、表面和截面形貌及物相组成进行了分析测试，采用CV、Tafel及EIS评估了微弧氧化膜的耐腐蚀性能。　　1. 研究了合金化对微弧氧化膜微观结构及耐蚀性的影响，其结果表明：　　（1）在硅酸盐电解液中，AM60B-PEO氧化膜的相组成主要为MgO、Mg2SiO4和MgAl2O4。AZ91D-PEO氧化膜的物相组成主要为MgO和Mg2SiO4，而Mg-PEO氧化膜中仅含MgO和MgSiO3。　　（2）与Mg-PEO氧化膜相比，AM60B和AZ91D镁合金陶瓷膜更具有点蚀倾向，但二者分别凭借其膜层中含有耐腐蚀性较强的物相，使其比Mg-PEO氧化膜更具有良好的耐腐蚀性。　　（3）在整个腐蚀过程中，AM60B-PEO 陶瓷膜经历了两个腐蚀阶段：第一阶段（24 h之前）中膜层有效地阻挡了腐蚀介质渗透至膜层/基体界面上，对基体提供了良好的保护性能；第二阶段（24 h之后）中AM60B镁合金基体裸露于腐蚀介质中，膜层对基体几乎丧失了机械保护作用，呈现为局部腐蚀状态。AZ91D-PEO陶瓷膜均呈现为均匀的全面腐蚀，且腐蚀过程中 Cl-尚未渗透至膜层/基体界面。此外，Mg-PEO 陶瓷膜也呈现为全面腐蚀状态，但腐蚀后期 Cl-已渗透至膜层/基体界面。　　2.考察了电压对微弧氧化膜微观结构及耐蚀性的影响，其结果表明：较300 V电压下，高电压（450 V）下原位制备的纯镁、AM60B和AZ91D镁合金陶瓷膜因其尺寸较大的双层结构，有效地阻止了腐蚀介质中 Cl-侵入至膜层/基体界面，大幅度增强了膜层的耐腐蚀性能。　　3. 评判了各实验结果是否可以相互印证，研究结果表明：CV、Tafel 及 EIS 分别为评判点蚀程度、鉴定耐腐蚀性强弱和分析腐蚀过程膜层结构变化的电化学测试方法。各表征结果相互印证，且均适合于膜层耐腐蚀性表征。