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基于45nm FDSOI器件的总剂量抗辐照加固技术研究

来源 :西安电子科技大学 | 被引量 : 0次 | 上传用户：dgqshwf

【作 者】

：

余文龙 

【出 处】

：

西安电子科技大学

【发表日期】

：

2021年01期

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