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北京师范大学串列实验室建立了外束质子激发X荧光（PIXE）分析装置．外束引出窗口采用7．5μm厚Kapton膜．为了保护加速器系统，在外束管道中安装自己设计制作的快速真空保护阀,考虑到绝缘样品不能直接测量束流积分，在RBS靶室放置175nm金箔，并建立了金RBS峰面积和束流积分之间的关系，这样在采集外束PIXE能谱的同时，通过记录金箔RBs信号就可获得束流积分．对GBW07306水系沉积物有证标准物质进行了外束PIXE测量及定性分析，并与真空PIXE结果进行了比较．