论文部分内容阅读
可编程逻辑器件（PLD）在电子设备中广泛应用,其安全缺陷检测已成为信息安全领域中一个富有挑战性的课题。通过分析PLD安全缺陷的存在形式,提出了基于状态转移图的安全缺陷检测方法。该方法统一了检测思路,采用了脱机式芯片逆向分析和在线式芯片逆向分析相结合的技术,适用于不同的PLD安全缺陷检测,同时根据存在形式提出了检测算法。最后通过模拟测试对该检测思路及算法的有效性进行了验证。