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微波薄膜铁磁材料主要参数是共振磁场强度和共振线宽,基于VNA的扫场测试可直接得到共振磁场强度和共振线宽,而且测量精度高,可测量薄膜方向性,但耗时长。而扫频测试虽然只能得到谐振点频率和频率宽度,且精度低,但速度极快。通过理论论证和实验分析,探讨了一种扫场和扫频相结合的新技术来解决这个矛盾。首先估算铁磁材料的另两个特征参数旋磁比酌和饱和磁化强度Ms,然后由扫频频宽来估算共振线宽。实验表明,扫频估算线宽与扫场测量线宽的差异在6%以下。