多芯片组件（MCM）的可测性设计

来源 :湖南大学学报(自然科学版) | 被引量 : 0次 | 上传用户：liwj

【摘要】

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为克服在线测试技术测试MCM时不能达到满意的故障覆盖率的困难,采用可测性技术对MCM进行设计.根据MCM的特点和测试要求,提出了在JTAG标准基础上扩展指令寄存器,添加专门的用

【作者】

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张红南赵琼刘晓巍华孝泉罗丕进

【机构】

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湖南大学,湖南大学

【出处】

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湖南大学学报(自然科学版)

【发表日期】

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2005年4期

【关键词】

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多芯片组件 JTAG 可测性设计 MCM 指令寄存器 Multi Chip Module （MCM） Joint Test Action Group （JT

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为克服在线测试技术测试MCM时不能达到满意的故障覆盖率的困难,采用可测性技术对MCM进行设计.根据MCM的特点和测试要求,提出了在JTAG标准基础上扩展指令寄存器,添加专门的用户指令,融合扫描通路法、内建自测试法等可测性方法,分层次地对MCM进行全面测试.建立模型进行验证的结果表明:该方法能有效地测试MCM,缩短了测试时间,故障覆盖率达到95%以上.

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