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通过分析 CMOS 集成电路光辐射机理，利用单光子探测技术，搭建针对 CMOS 电路光辐射采集平台；以运行固定指令的 AT89C52微控制器为分析对象，分析密码芯片光辐射信息与其执行的操作及处理的数据存在的依赖性关系，同时也分析了不同工作电压对密码芯片光辐射的影响；通过对密码芯片光辐射进行分析，说明光辐射旁路分析对安全芯片构成了严重的威胁。