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针对March类内存检测算法越来越复杂、检测时间越来越长，且更适用于对嵌入式内存芯片的检测等问题，提出一种结合硬件特征的并行内存故障检测方案。该方案包括2种并行检测方法：（1）根据DDR2的结构和工作原理设计的芯片级并行，可以并行检测一个DDR2内部的多个内存芯片。（2）根据访存控制器的结构和工作原理设计的访存控制器级并行，可并行检测多个DDR2内存条。对于芯片级并行，访存带宽越大，即并行检测的芯片个数越多，并行效果越好，从1个芯片到并行检测8个芯片，内存的检测时间几乎是呈线性递减的。对于访存控制器级并行