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在超大规模集成电路工艺中，有着极好热稳定性、抗湿性的二氧化硅一直是金属互连线路间使用的主要绝缘材料，金属铝则是芯片中电路互连导线的主要材料。然而，相对于元件的微型化及集成度的增加，电路中导体连线数目不断的增多，使得导体连线架构中的电阻（R）及电容（C）所产生的寄生效应，造成了严重的传输延迟（RC delay），在130纳米及更先进的技术中成为电路中讯号传输速度受限的主要因素。