多晶CdS/CdTe异质结界面的能带偏移

来源 :半导体学报 | 被引量 : 0次 | 上传用户:ciancomjy
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采用真空蒸发法制备了CdS和CdTe,并对其结构和光学性质进行了研究.原位制备了衬底沿(001)高度择优取向的CdS/CdTe异质结,研究了其结构、电子学性质.获得的CdS,/CdTe半导体异质结的价带偏移△Ev=0.98eV±0.05eV,导带偏移AEc=0.07±0.1eV.
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