基于后驱动技术的BIT测试适配器

来源 :计算机自动测量与控制 | 被引量 : 0次 | 上传用户:ybingh
下载到本地 , 更方便阅读
声明 : 本文档内容版权归属内容提供方 , 如果您对本文有版权争议 , 可与客服联系进行内容授权或下架
论文部分内容阅读
介绍一种采用后驱动技术的故障注入方法 ,可以在不拆卸被测系统任何部件也不需在被测系统中添加任何测试接口的情况下 ,对被测系统实施方便灵活的故障注入。文章首先简单介绍了智能化BIT测试适配器 ,接着重点阐述了后驱动技术的原理、后驱动故障注入的实现及后驱动故障注入的特点。 A fault injection method using post-drive technology is introduced to implement a convenient and flexible fault injection into the system under test without disassembling any part of the system under test or adding any test interface to the system under test. The article first briefly introduces the intelligent BIT test adapter, and then focuses on the principle of post-drive technology, the realization of post-drive fault injection and the characteristics of post-drive fault injection.
其他文献
目的 探讨血管内超声(intravascular ultrasound,IVUS)指导下行准分子激光消蚀术(excimer laser coronary atherectomy,ELCA)治疗冠状动脉内支架再狭窄(in-stent restenosis,
正压生物防护服HZ-ZYF-01型正压生物防护服是“十二五”国家科技重大专项最新研究成果,2014年通过军队科技成果鉴定。该防护服主要用于从事传染病防治、生物污染物处理、病原