【摘 要】
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目前,多阈值电压方法是缓解电路泄漏功耗的有效手段之一.但是,该方法会加重负偏置温度不稳定性(NBTI)效应,导致老化效应加剧,引起时序违规.通过找到电路的潜在关键路径集合,
【机 构】
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合肥工业大学电子科学与应用物理学院,合肥,230009
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目前,多阈值电压方法是缓解电路泄漏功耗的有效手段之一.但是,该方法会加重负偏置温度不稳定性(NBTI)效应,导致老化效应加剧,引起时序违规.通过找到电路的潜在关键路径集合,运用协同优化算法,将关键路径集合上的门替换为低阈值电压类型,实现了一种考虑功耗约束的多阈值电压方法.基于45 nm工艺模型及ISCAS85基准电路的仿真结果表明,在一定功耗约束下,该方法的时延改善率最高可达12.97%,明显优于常规多阈值电压方法.电路的规模越大,抗泄漏功耗的效果越好.
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