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简要介绍了跳源法在ADS中子学研究中测量次临界度的原理、外源驱动的次临界中子学的实验装置、堆芯布置及中子源驱动系统.主要研究了252Cf中子源在堆芯不同轴向位置、模拟质子束管和散裂中子靶件处不同缓冲区材料对keff的影响.实验结果与其它实验方法的结果进行了比较,符合较好.
跳源法在ADS中子学研究中的应用
【摘 要】
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简要介绍了跳源法在ADS中子学研究中测量次临界度的原理、外源驱动的次临界中子学的实验装置、堆芯布置及中子源驱动系统.主要研究了252Cf中子源在堆芯不同轴向位置、模拟质
【机 构】
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中国原子能科学研究院
【出 处】
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原子能科学技术
【发表日期】
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2003年3期
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