X射线荧光光谱基本参数法测定高温超导体的组分

来源 :中国科学技术大学学报 | 被引量 : 0次 | 上传用户：luochengshabi

【摘要】

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用X射线荧光光谱基本参数法测定了Y1-xPrxBa2Cu3Oy系列样品中的钇镨钡铜百分含量，然后折算成它们的原子比.实验结果表明测量值与样品的名义组分的确有差别，这可能就是各超导小

【作者】

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毛振伟陈树榆周贵恩 ZHOU Gui-En

【机构】

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中国科学技术大学,StructureResearchLaboratory

【出处】

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中国科学技术大学学报

【发表日期】

：

2001年2期

【关键词】

：

高温超导体 X射线荧光氧组分测定光谱分析 high temperature superconductor x-ray fluorescence real

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用X射线荧光光谱基本参数法测定了Y1-xPrxBa2Cu3Oy系列样品中的钇镨钡铜百分含量，然后折算成它们的原子比.实验结果表明测量值与样品的名义组分的确有差别，这可能就是各超导小组报道的Tc～x曲线形状不一样的原因之一.实验还显示Tc与x的关系不是一条简单的二次曲线.讨论了氧对分析元素测量值的影响，氧对各分析线的质量吸收占基体总的质量吸收份数最大不超过3.41％.

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