DBD放电中温度特性与OH促进NO氧化过程光谱诊断

来源 :能源工程 | 被引量 : 0次 | 上传用户:feixiete2009
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利用光谱诊断方法深入研究了介质阻挡放电(DBD)中气体分子温度分布,OH自由基促进NO分子氧化过程的光谱特性,获得了NO(A^2∑^+→X^2П,0—3,1—4)、N2(C^3Пu→B^3Пg,0—0)和OH(A^2∑^+→X^2П,0—0)的高分辨率发射光谱。通过拟舍得到NO(A^2∑^+→X^2П)转动带253—260nm的谱线,将其与实验谱线进行比较,获得了DBD放电区域的气体分子温度;发现在放电通道内气体分子温度分布较为均衡,但靠近内电极气体分子温度约为330K,略高于介质附近的310K。研究了N
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