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以德温特专利数据库收录的1962--2009年间在中国和美国申请的纳米传感器技术专利为群究对象，通过对专利在年度分布、公司分布、应用领域分布等方面的计量分析，对中关两国纳米传感器教术创新现状和发展趋势进行全面分析与比较，从而为我国政府、科研机构与企业制定纳米传感器技术科技发展计划、开展相关技术研发等提供决策支持与事实依据。