集成电路绝缘氧化层ESD击穿机理探讨

来源 :中国物理学会第十一届静电、电磁防护与电磁兼容学术年会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:a12307856
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在集成电路绝缘氧化层ESD介质击穿物理模型的基础上,讨论了绝缘氧化层加上一次线性电场条件下发生介质击穿的机理.
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