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介绍了时间间隔分析法测量低水平活度~（220）Rn的装置的设计,该装置基于STM32,由FD-125闪烁室探测器、主放大器电路、信号整形电路及系统软件结构组成。仪器设计根据~（220）Rn级联衰变特性,采用时间间隔分析法对采集到的核脉冲时间序列进行时间间隔分析。开展了对标准~（220）Rn源单独及混合场的测量实验研究,其结果相对偏差分别在5%、9%以内。