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存储测试仪是火炮发射过程中动态参数测试的首选装置,在使用中往往面临恶劣的测试环境,其可靠性是影响测试结果的关键因素之一。通过分析恶劣环境因子对存储测试仪输出的影响,分别从电路模块、电池和防护壳体几个主要部件进行失效模式分析,并针对性地提出了提高其可靠性的有效方法,详细说明了真空灌封的工艺流程,对存储测试仪的可靠性设计有一定的价值。