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在两面顶细粒度金刚石合成中采用PtRh30-PtRh6（双铂铑热电偶）测量温度，测得了合成芯块内部温度，得出了加热功率曲线与晶体生长温度的对应关系。根据多次实验结果，建立了生长温度稳定性具有显著差异的四种典型功率曲线；并分析了各曲线对应的温度变化趋势及幅度，四种曲线中温度变化幅度最大超过70％，最小可控制在10℃以内。对各曲线合成的金刚石进行了扫描电镜（SEM）及专门的产品指标对照分析，发现晶体生长温度越稳定晶体质量越好；将晶体生长温度控制在10％以内，能使细粒度晶体质量的综合指标提高5％-10％。