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激光干扰是对抗成像观瞄设备和精确制导武器，保护己力目标的重要方式。为了评估激光对CMOS像传感器的干扰效果，利用1.06μm高重频激光开展了对CMOS相机的饱和干扰实验研究，实验中计算了CMOS图像饱和激光功率密度阈值，并分析了CMOS相机干扰有效面积、饱和干扰面积、干扰前后图像相关度与激光入射功率之间的关系。实验结果表明．随着激光功率的增加。CMOS相机饱和像元数、干扰有效面积增加，图像质量下降，干扰效果明显提高