随机存取存储器故障分析及测试方案实现

来源 :中国计量学院学报 | 被引量 : 0次 | 上传用户：robinchen

【摘要】

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通过随机存取存储器(RAM)物理电路缺陷分析,建立了RAM故障模型.在RAM故障模型的基础上,分析了传统RAM测试算法MARCH-C算法的不足和缺陷,提出了改进的MARCH-C算法.该算法不但

【作者】

：

蒋登峰周娟

【机构】

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杭州士兰微电子股份有限公司,中国计量学院质量与安全工程学院

【出处】

：

中国计量学院学报

【发表日期】

：

2010年3期

【关键词】

：

随机存取存储器检测故障模型故障表现 RAM testing fault model MARCH-C

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通过随机存取存储器(RAM)物理电路缺陷分析,建立了RAM故障模型.在RAM故障模型的基础上,分析了传统RAM测试算法MARCH-C算法的不足和缺陷,提出了改进的MARCH-C算法.该算法不但适用于面向位的测试,而且适用于面向字节或字的RAM测试.基于该算法,构建了用于SOC片内RAM和通用RAM的系统测试方案.实验表明,RAM故障模型和改进的MARCH-C算法的有效性.

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