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现阶段,石英晶体元件在高空、低温等条件下的使用过程中还是经常出现问题,这种问题的产生多是由元件内部水汽含量过高导致.因此,对石英晶体元件内部水汽含量采用合理的方式进行控制,提高其在应用过程中的稳定性就是非常必要的.本文主要对石英晶体元件内部水汽含量控制进行研究,并提出科学有效的解决方案,以备实现其在高空、低温等环境下的稳定应用.