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<正> 有机化合物的质谱分析,当前研究的重点仍是正离子质谱。因为在电离室中,电子轰击样品后形成的正离子数目为负离子的103～104倍,故要研究反映分子结构特征的负离子质谱,就要求仪器具有高灵敏度。此外,过去多数商品仪器没有负离子检测设备,也影响了负离子质谱的研究。 Molton[1]对负离子质谱用于有机化合物方面的早期工作已进行了综述。Von Arden—ne[2]等在1950～1965年期间对有机分子的负离子质谱进行了大量工作。Aplin[3]在20～70eV的EI负离子质讲中、未能观察到化合物的分子离子峰.当时负离子质谱在分子量测定方面意义不大,主要是用于稳定的负离子测