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随着半导体存储器向多品种、高速和高集成化等方向发展，测试问题显得越来越突出和重要。下面主要介绍了存储器电路的分类，以及存储器电路的测试参数和测试向量。
浅谈存储器测试
【摘 要】
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随着半导体存储器向多品种、高速和高集成化等方向发展，测试问题显得越来越突出和重要。下面主要介绍了存储器电路的分类，以及存储器电路的测试参数和测试向量。
【机 构】
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中国电子科技集团公司第四十七研究所,辽宁石化职业技术学院自动化系
【出 处】
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微处理机
【发表日期】
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2008年1期
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